近日，由汉能控股主导编制的《硅基薄膜光伏元件光致衰退测试方法》（SEMI PV 73-0216）正式发布，并获得SEMI颁发的标准证书。
据了解，《硅基薄膜光伏元件光致衰退测试方法》国际标准的编撰过程历时一年半，该标准是对IEC61646-2008标准的重要补充，也是目前世界上唯一针对硅基薄膜光伏元件的“光老化”测试标准，适用于单结、双结和三结各种类型的硅基薄膜光伏元件。
硅基薄膜光伏组件长期受到光致衰退影响，表现在随着光照时间增加电学性能逐渐降低，业界把这种现象称作“光老化”。为增强标准的科学性、合理性，汉能控股与浙江正泰太阳能科技有限公司、河北大学和河北汉盛光电科技有限公司成立了标准编制组，搜集了大量元件并对它们进行了1000小时“光老化”试验，积累了充分资料，总结出了对硅基薄膜光伏元件光致衰退更完整描述的测试方法标准。按照该推荐性测试方法标准测试硅基薄膜光伏元件的光致衰退特性，其最终功率稳定性将更可靠。2015年9月，该标准草案以100%的通过率获得全球专家的一致认同，并通过SEMI 标委会所有程式审核，于今年3月向全球正式发布。
据悉，汉能控股正在制定的《铜铟镓硒薄膜光伏组件》国家标准，将是我国首个专门针对铜铟镓硒薄膜光伏元件的国家标准，不仅可以规范铜铟镓硒薄膜光伏元件产品的特有性能及保障产品品质，还能实现产品制造与产品应用之间的统一规范，对制造方、应用方给予指导。汉能控股同时主导编制的《柔性薄膜光伏元件卷曲测试方法》SEMI国际标准，将填补“国际缺乏卷曲测试”这一空白，预计该标准将在2017年发布。
